Abstract

Verifikation und Test

Prof. Becker

Die rasch wachsende Integrationsdichte von VLSI-Schaltungen und der damit einhergehende Anstieg der Komplexitäten stellen enorme Anforderungen an Entwurf und Fertigung. Für hochkomplexe Systeme, sogenannte Systems on Chip (SoCs), muss auch weiterhin die Qualität der Produkte sichergestellt werden. Dazu ist einerseits die generelle Korrektheit des Entwurfs zu gewährleisten und andererseits die Korrektheit der einzelnen, gemäß einem korrekten Entwurf gefertigten Chips vor der Inbetriebnahme wie auch im Einsatz sicherzustellen.

Nach einer allgemeinen Einführung in diese Thematik, soll auf einige Aspekte aus dem Bereich Test näher eingegangen und neuere Entwicklungstendenzen aufgezeigt werden. Sie demonstrieren exemplarisch die Herausforderungen und zeigen Ansätze auf, wie trotz gestiegener Komplexitäten und neuartiger Defektmechanismen in Nanoscale-Technologien auf wachsende Qualitätsanforderungen, insbesondere in sicherheitskritischen Anwendungen der Automotive-, Aerospace- und Health-Care-Industrie, reagiert werden kann.

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