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Vom eingebetteten Test zur eingebetteten Diagnose
Prof. Dr. Hans-Joachim Wunderlich, Universität Stuttgart
Der Test integrierter Systeme mit Millionen von Transistoren stellt hohe Anforderungen bezüglich der Größe der Testsätze, der Testdurchführungszeit, der Testgeschwindigkeit und der diagnostischen Auflösung. Diesen Herausforderungen kann man dadurch begegnen, dass man die Systeme vermehrt mit zusätzlichen Strukturen zur Unterstützung des Tests ausstattet und so die externen Testgeräte entlastet. Solche Strategien beginnen bei recht einfachen Kompressions- und Dekompressionsverfahren für die Testdaten und reichen bis zu einem vollständig autonomen Selbsttest. Häufig führen die Verfahren jedoch zu einer reduzierten diagnostischen Auflösung.
Der Vortrag gibt einen Überblick über Techniken, den Test in ein System einzubetten ohne die diagnostischen Fähigkeiten zu beeinträchtigen. Eine derartige eingebaute Selbstdiagnose findet ihren Einsatz im Fertigungstest, zur Systemcharakterisierung, zur Analyse von Rückläufern und auch im Prototyping. Schließlich dient sie auch zur Implementierung von Fehlertoleranz und zur Steuerung einer Selbstrekonfiguration.
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